介绍了两种传统等效采样的意义、原理和方法,指出其局限性,在精准测量上存在难度并分析了其原因,提出了实时测试波形采显技术的研究,通过找准跳变点及时间延两方面,结合芯片电学性能和结构特点,快速开发出芯片的测试程序。采样技术的基本原理随机等效采样技术是在顺序等效采样技术的基础上发展而来的，在采样信号连续工作情况下，输入信号在满足触发条件后产生触发信号，如果能将触发信号与下一次采样点之间的时间间隔（这个时间间隔小于一个采样信号周期）进行测量，就能得到触发点后小于一个采样信号周期的波形点的信息[3]。如果所有时间点上的采样事件都发生，就可以采集完成小于一个采样信号周期的波形的信息，通过对随机产生的采样数据的位置重新整理，就能将这段波形进行复现，从而实现等效采样[4]。随机等效采样的基本原理如图1所示。图1随机等效采样原理以上两种等效采样技术都存在一定的局限性，做到精准测量实时测试波形采显技术的研究尚磊，李杰（集成电路测试技术北京市重点实验室，北京自动测试技术研究所，北京，100088）摘要：介绍了两种传统等效采样的意义、原理和方法，指出其局限性，采显技术的研究-电动数控滚圆机滚弧机张家港电动液压滚圆机滚弧机折弯机在精准测量上存在难度并分析了其原因，提出了实时测试波形采显技术的研究，通过找准跳变点及时间延两方面，结合芯片电学性能和结构特点，快速开发出芯片的测试程序。 本文由公司网站滚圆机网站采集转载中国知网资源整理!www.gunyuanji.name用相同的定义值；除voltageset1外，其余所有set的四个电压值若某一项不为零，则默认为其余所有set的四个电压值为其所显示在界面上的值。驱动/比较电压的正确设置与否直接关系到芯片的功能测试是否通过，因此，开发芯片的测试程序首先要找准电压跳变点。如下图2所示。图2驱动/比较电压界面2.2响应时间集合主要用于控制测试仪对输出信号的采样时间，通过上升沿和下降沿的时间的选择来实现。通过设置上升沿下降沿，可以清楚显示波形图，方便芯片测试程序的调试和开发。如下图3所示。图3响应时间界面2.3矢量定义界面矢量定义界面主要用于定义所测芯片的测试程序的测试图形矢量，用以完成芯片的功能测试。左侧是图形矢量的矢量号，表示矢量的相对地址，界面的顶部按“管脚定义”界面定义的管脚顺序显示各field名称，列表的第一列“Ins”栏表示的是指令，用于控制矢量图形的运行。中间部分表示矢量图形，紫色表示输入矢量，绿色表示输出矢量。下部的“起始向量”框可以选择第一行显示向量的向量号“，失效显示”复选框决定是否显示测试后失效的向量，进行一次测试后如果功能测试失效，可通过“查看下一失效”按钮依次查看所有的失效行。3实时测试波形采显技术的研究在BC3192V50测试系统中，开发一个芯片的测试程序，主要研究两方面内容：驱动比较电压以及响应时间。（1）找出跳变点在找出跳变点之前，必须对所测芯片的数据手册分析清楚，确定某时某刻某一管脚输入输出的是高电平还是低电平等。测试方法如下。设置比较电压为0v，对芯片进行功能测试，保存测试结果。在一个周期内连续采样30次，画出波形。参照芯片测试手册对矢量定义界面的测试结果进行分析。如果在该电压下，芯片某管脚采显技术的研究-电动数控滚圆机滚弧机张家港电动液压滚圆机滚弧机折弯机 本文由公司网站滚圆机网站采集转载中国知网资源整理!www.gunyuanji.name